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点亮(第1页)

四十八小时。

陈默几乎没有合过眼。

他和两名核心工程师轮流守在实验室里,一人测试,一人记录,一人复核。测试台上摆满了各种设备,示波器的波形像心跳一样跳动着,逻辑分析仪的指示灯闪烁不停,电源供应器上的数字不断跳动。

第一项测试:供电完整性。

芯片上电,测量各个电源域的电压值,检查是否存在短路或漏电。这是最基础的测试,也是最容易发现问题的一步。很多芯片在流片回来后,第一步就栽在了这里——某个电源域对地短路,整颗芯片直接报废。

陈默小心翼翼地夹起第一颗芯片,放入测试座,锁紧压杆,然后深吸一口气,按下了电源开关。

电流表的指针轻轻摆动了一下,然后稳定在一个极低的数值上。

“静态电流正常。”旁边的工程师报出了读数。

陈默没有放松,逐一测量了每个电源域的电压——核心电压1。1伏,精确到小数点后三位;IO电压3。3伏,纹波小于百分之一;PLL供电1。8伏,干净得像教科书上的波形图。

“所有电源域正常。”陈默在测试记录上打了个勾。

第一关,过了。

第二项测试:时钟系统。

芯片内部的锁相环需要产生多个不同频率的时钟信号,供给不同的功能模块。如果时钟信号不稳定,整个芯片的工作都会受到影响。

陈默用探针接触芯片表面的测试点,示波器上立刻显示出了一串干净的正弦波。频率、幅度、抖动——每一项指标都在规格范围内。

“时钟系统正常。”

第三项测试:扫描链测试。

这是用来检测芯片内部制造缺陷的标准方法。通过向芯片输入一串测试向量,然后读取输出结果,判断芯片内部的逻辑门是否都能正常工作。

陈默加载了预先编写好的测试程序,点击了运行按钮。屏幕上滚动过一行行绿色的“PASS”字样,速度很快,快到肉眼几乎跟不上。

大约三分钟后,测试程序停止运行。屏幕上显示出一个简单的统计结果:

“扫描链测试通过。测试向量数:124,567。故障覆盖度:99。87%。”

陈默盯着那个数字看了几秒钟,然后长长地呼出了一口气。

“基本功能没问题了。”他说。

旁边的工程师忍不住拍了一下桌子:“牛逼!”

但陈默没有笑。基本功能测试通过只是第一步,真正的重头戏还在后面——性能测试、压力测试、老化测试、可靠性测试,每一项都比前一项更严苛。尤其是车规级的可靠性测试,需要在极端温度、湿度、振动条件下连续运行数千小时,才能验证芯片是否能够在汽车的恶劣环境中稳定工作。

但至少,这一刻是值得庆祝的。

陈默脱下防静电手套,走出实验室,掏出手机,拨通了王一博的电话。

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